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        Dimension:高性能免纏繞插回損測試方案

        摘要:維度科技的高性能免纏繞插回損測試方案,采用自研的高性能光源和高精度光功率計,很好地解決了插回損測試中經常遇到的諸如測試效率低、測試范圍小、需要纏繞、不能測量較短光纖等問題,具有前所未有的易用性和突出優勢,是目前單芯、MPO光纖跳線、連接器及其他無源器件插回損性能測試的理想選擇。

          ICC訊 維度科技的高性能免纏繞插回損測試方案,采用自研的高性能光源和高精度光功率計,很好地解決了插回損測試中經常遇到的諸如測試效率低、測試范圍小、需要纏繞、不能測量較短光纖等問題,具有前所未有的易用性和突出優勢,是目前單芯、MPO光纖跳線、連接器及其他無源器件插回損性能測試的理想選擇。

         

          附:接口選型列表:

         

          更多詳情:http://www.dimension-tech.com

        內容來自:深圳維度科技 微信公眾號
        本文地址:http://www.noahsports.com.cn//Site/CN/News/2020/04/10/20200410010936666567.htm 轉載請保留文章出處
        關鍵字: 維度科技 測試方案
        文章標題:Dimension:高性能免纏繞插回損測試方案
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